JIS C 5630-3-2009 Semiconductor devices-Micro-electromechani

标准名称：JIS C 5630-3-2009 Semiconductor devices-Micro-electromechanical devices- Part 3 Thin film standard test piece for tensile testing
标准格式：PDF
标准大小：186.81 KB
标准状态：现行
推荐等级：★★★★
授权方式：免费下载
解压密码：www.cstandard.com
更新日期：2011年10月26日
内容简介
JIS C 5630-3-2009 Semiconductor devices-Micro-electromechanical devices- Part 3 Thin film standard test piece for tensile testing
 
　　

 


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