SJ/T 11706-2018 半导体集成电路 现场可编程门阵列测试方法 标准编号：SJ/T 11706-2018 标准名称：半导体集成电路 现场可编程门阵列测试方法 发布部门：中华人民共和国工业和信息化部 起草单位： 发布日期：2018-02-09 实施日期：2018-04-01 标准状态：现行 标准格式：PDF 文件大小：4.30 MB 内容简介 本标准规定了SRAM型现场可编程门阵列（Field Programmable Gate Array，以下简称FPGA）的电参数测试方法。
